发明创造名称：光学镜、X射线荧光分析装置以及X射线荧光分析方法
外观设计名称：
决定号：188155
决定日：2019-08-23
委内编号：1F261771
优先权日：2013-03-07
申请（专利）号：201480011675.4
申请日：2014-02-27
复审请求人：赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所
无效请求人：
授权公告日：
审定公告日：
专利权人：
主审员：刘杰
合议组组长：钱凌影
参审员：贾晶晶
国际分类号：G01N23/223；G01B15/02
外观设计分类号：
法律依据：专利法第22条第3款
决定要点：如果一项权利要求请求保护的技术方案相对于作为最接近现有技术的对比文件存在区别技术特征，该区别技术特征的一部分被另一篇对比文件公开，并且其在该另一篇对比文件和本申请的技术方案中所起的作用相同，该区别技术特征的其他部分属于本领域的公知常识，那么本领域技术人员在上述对比文件以及本领域公知常识结合的基础上得到该权利要求请求保护的技术方案是显而易见的，该权利要求不具备创造性。
全文：
本复审请求涉及申请号为201480011675.4，名称为“光学镜、X射线荧光分析装置以及X射线荧光分析方法”的PCT发明专利申请（下称本申请）。申请人为赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所。本申请的申请日为2014年02月27日，优先权日为2013年03月07日，进入中国国家阶段日为2015年09月01日，公开日为2015年10月28日。
经实质审查，国家知识产权局专利实质审查部门于2018年06月12日发出驳回决定，驳回了本申请，其理由是：权利要求1-8、10-13不具备专利法第22条第3款规定的创造性；驳回决定的其他说明部分还指出：权利要求9不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
驳回决定中引用了如下对比文件：
对比文件1：GB2095960A，公开日为1982年10月06日；
对比文件2：US2009/0190722A1，公开日为2009年07月30日。
驳回决定所依据的文本为：2015年09月01日进入中国国家阶段时提交的国际申请文件的中文译文的说明书第1-42段、说明书附图、说明书摘要、摘要附图；2018年02月06日提交的权利要求第1-13项。
驳回决定所针对的权利要求书如下：
“1. 一种用于X射线荧光分析装置的光学镜，其中，所述X射线荧光分析装置具有X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由所述光学镜(20)产生试样(15)的被辐照的测量位置(29)的光学控制图像(26)，所述光学镜在所述X射线源(10)的射束路径中成角度地布置，所述光学镜包括载体(21)，在所述载体(21)上设置有镜层(28)，
其特征在于
所述载体(21)具有平坦的基体，所述平坦的基体在用于X射束(19)的通窗的区域内具有凹口(23)，并且在所述载体(21)的外侧上将所述平坦的基体和所述凹口(23)覆盖的膜(22)形成所述镜层(28)，其中所述膜(22)被粘接至所述载体(21)并且以无张力的方式覆盖所述载体(21)的凹口(23)。
2. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)由塑料制成。
3. 根据权利要求2所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)由聚对苯二甲酸乙二酯制成。
4. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)被金属化。
5. 根据权利要求2所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)具有由铝制成的涂层。
6. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)具有范围在几微米内的厚度。
7. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述平坦的基体由玻璃制成。
8. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述凹口为圆孔。
9. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述载体(21)被实施为仅仅矩形的框架，镜面化的膜(22)被铺设到所述框架上或附到所述框架上。
10. 一种X射线荧光分析装置，其包括X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由光学镜(20)产生试样(15)的被辐照的位置的光学控制图像(26)，所述光学镜在所述X射线源(10)的射束路径中成角度地布置，所述光学镜包括载体(21)，在所述载体(21)上设置有镜层(28)，其特征在于，所述光学镜(20)是根据权利要求1所述形成的光学镜。
11. 根据权利要求10所述的X射线荧光分析装置，其特征在于，所述摄像机(25)被实施为内窥镜。
12. 根据权利要求10所述的X射线荧光分析装置，其特征在于，单毛细管镜片或多毛细管镜片布置在所述光学镜(20)之前。
13. 一种用于对试样进行X射线荧光分析的方法，用于确定薄层的厚度，其中，所述试样(15)利用来自X射线源(10)的复色X射束(19)被辐照，由所述试样(15)发出的X射线荧光辐射(16)利用X射线探测器(17)被测量，所述试样(15)的测量位置(29)的光学控制图像(26)利用摄像机(25)经由光学镜(20)产生，所述光学镜在所述X射线源(10)的射束路径中成角度地布置，所述光学 镜包括载体(21)，在所述载体(21)上设置有镜层(28)，其特征在于，
其特征在于
所述光学镜(20)是根据权利要求1至9中任一所述的光学镜并且由X射束(13)穿透，并且，光学图像由所述试样(15)在所述膜(22)上的测量位置(29)所反映，且所述光学图像通过所述摄像机(25)被检测。”
驳回决定的具体理由是：1、权利要求1要求保护一种用于X射线荧光分析装置的光学镜，对比文件1公开了一种X射线荧光检测装置的光学镜；权利要求1与对比文件1的区别在于：本申请用于探测经由所述光学镜产生试样的被辐照的测量位置的光学控制图像为摄像机；所述载体具有平坦的基体，所述平坦的基体在用于X射束的通窗的区域内具有凹口，并且在所述载体的外侧上将所述平坦的基体和所述凹口覆盖的膜形成所述镜层；其中所述膜被粘接至所述载体并且以无张力的方式覆盖所述载体的凹口。上述区别技术特征部分被对比文件2公开并给出结合的技术启示，部分属于本领域公知常识。因此，权利要求1相对于对比文件1、对比文件2和本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。2、权利要求10要求保护一种X射线荧光分析装置，其包含根据权利要求1所述形成的光学镜；对比文件1公开了一种X射线荧光检测装置；结合针对权利要求1的评述，权利要求10不具备专利法第22条第3款规定的创造性。3、从属权利要求2-8、11-12的附加技术特征或被对比文件1-2公开，或属于本领域公知常识。因此，当其引用的权利要求不具备创造性时，权利要求2-8、11-12也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。4、权利要求13要求保护一种用于对试样进行X射线荧光分析的方法，其包含根据权利要求1-9中任一项所述形成的光学镜；对比文件1公开了一种用于对试样进行X射线荧光分析的方法；结合针对权利要求1-8的评述，权利要求13与对比文件1的区别还包括：本申请对试样进行X射线荧光分析的方法是用于确定薄层的厚度。然而上述区别属于本领域公知常识。因此，权利要求13相对于对比文件1、对比文件2和本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。5、驳回决定的其他说明部分指出：从属权利要求9的附加技术特征部分被对比文件2公开，部分属于本领域公知常识。因此，当其引用的权利要求不具备创造性时，权利要求9也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
申请人（下称复审请求人）对上述驳回决定不服，于2018年09月27日向国家知识产权局提出复审请求，并提交了权利要求书的全文修改替换页，修改涉及：将从属权利要求7的附加技术特征添加到独立权利要求1中，删除权利要求7，并适应性修改了相关权利要求的序号和引用关系。复审请求人在复审请求书中陈述了修改后权利要求具备创造性的理由：根据对比文件2说明书第0030段的记载可知，传统的抛光玻璃平坦镜并不适合，原因在于其导致过多的X射线衰减。即对比文件2实际上给出的是与使用玻璃镜截然相反的技术启示。因此本领域技术人员在对比文件2的基础上不会将现有结构修改为玻璃镜。
经形式审查合格，国家知识产权局受理了该复审请求，于2018年10月10日向复审请求人发出复审请求受理通知书，并向专利实质审查部门发出前置审查通知书。
专利实质审查部门在前置审查意见书中坚持驳回决定。
针对上述复审请求，国家知识产权局依法成立合议组对本案进行审查。
本案合议组于2019年04月22日发出复审通知书，指出：1、权利要求1请求保护一种用于X射线荧光分析装置的光学镜，对比文件1公开了一种用于X射线荧光检测装置的光学镜；权利要求1与对比文件1的区别在于：（1）还包括摄像机；（2）光学镜包括载体，在载体上设置有镜层，载体具有平坦的基体，平坦的基体在用于X射束的通窗的区域内具有凹口，并且在载体的外侧上将平坦的基体和凹口覆盖的膜形成镜层，膜被粘接至载体并且以无张力的方式覆盖载体的凹口，并且其中平坦的基体由玻璃制成。其中，区别（1）属于本领域公知常识；区别（2）部分被对比文件2公开并给出结合的技术启示，部分属于本领域公知常识。因此，权利要求1相对于对比文件1、对比文件2和本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。2、权利要求9请求保护一种X射线荧光分析装置，对比文件1公开了一种用于X射线荧光检测装置；权利要求9与对比文件1的区别在于：（1）还包括摄像机；（2）光学镜是根据权利要求1所述形成的光学镜。其中，区别（1）属于本领域公知常识；区别（2）参考针对权利要求1的评述。因此，权利要求9不具备专利法第22条第3款规定的创造性。3、从属权利要求2-8、10-11的附加技术特征或被对比文件1-2公开，或属于本领域公知常识。因此，当其引用的权利要求不具备创造性时，权利要求2-8、10-11也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。4、权利要求12请求保护一种用于对试样进行X射线荧光分析的方法，对比文件1公开了一种用于X射线荧光检测装置和检测方法；权利要求12与对比文件1的区别在于：（1）X射线荧光分析的方法用于确定薄层的厚度，利用复色X射束，光学图像通过摄像机被检测；（2）光学镜是权利要求1至8中任一所述的光学镜。其中，区别（1）属于本领域公知常识；区别（2）参考针对权利要求1-8的评述。因此，权利要求12不具备专利法第22条第3款规定的创造性。5、合议组针对复审请求人的意见陈述进行了评述。
针对上述复审通知书，复审请求人于2019年06月05日提交了意见陈述书，并提交了权利要求书的全文修改替换页，修改涉及：在权利要求12中增加技术特征“其中所述X射束(13)首先进入并穿过所述载体(21)的凹口(23)并且随后穿过所述膜(22)”。
修改后的权利要求书如下：
“1. 一种用于X射线荧光分析装置的光学镜，其中，所述X射线荧光分析装置具有X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由所述光学镜(20)产生试样(15)的被辐照的测量位置(29)的光学控制图像(26)，所述光学镜在所述X射线源(10)的射束路径中成角度地布置，所述光学镜包括载体(21)，在所述载体(21)上设置有镜层(28)，
其特征在于
所述载体(21)具有平坦的基体，所述平坦的基体在用于X射束(19)的通窗的区域内具有凹口(23)，并且在所述载体(21)的外侧上将所述平坦的基体和所述凹口(23)覆盖的膜(22)形成所述镜层(28)，其中所述膜(22)被粘接至所述载体(21)并且以无张力的方式覆盖所述载体(21)的凹口(23)，并且其中所述平坦的基体由玻璃制成。
2. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)由塑料制成。
3. 根据权利要求2所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)由聚对苯二甲酸乙二酯制成。
4. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)被金属化。
5. 根据权利要求2所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)具有由铝制成的涂层。
6. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述膜(22)具 有范围在几微米内的厚度。
7. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述凹口为圆孔。
8. 根据权利要求1所述的光学镜，其特征在于，所述载体(21)被实施为仅仅矩形的框架，镜面化的膜(22)被铺设到所述框架上或附到所述框架上。
9. 一种X射线荧光分析装置，其包括X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由光学镜(20)产生试样(15)的被辐照的位置的光学控制图像(26)，所述光学镜在所述X射线源(10)的射束路径中成角度地布置，所述光学镜包括载体(21)，在所述载体(21)上设置有镜层(28)，其特征在于，所述光学镜(20)是根据权利要求1所述形成的光学镜。
10. 根据权利要求9所述的X射线荧光分析装置，其特征在于，所述摄像机(25)被实施为内窥镜。
11. 根据权利要求9所述的X射线荧光分析装置，其特征在于，单毛细管镜片或多毛细管镜片布置在所述光学镜(20)之前。
12. 一种用于对试样进行X射线荧光分析的方法，用于确定薄层的厚度，其中，所述试样(15)利用来自X射线源(10)的复色X射束(19)被辐照，由所述试样(15)发出的X射线荧光辐射(16)利用X射线探测器(17)被测量，所述试样(15)的测量位置(29)的光学控制图像(26)利用摄像机(25)经由光学镜(20)产生，所述光学镜在所述X射线源(10)的射束路径中成角度地布置，所述光学镜包括载体(21)，在所述载体(21)上设置有镜层(28)，其特征在于，
其特征在于
所述光学镜(20)是根据权利要求1至8中任一所述的光学镜并且由X射束(13)穿透，其中所述X射束(13)首先进入并穿过所述载体(21)的凹口(23)并且随后穿过所述膜(22)，并且，光学图像由所述试样(15)在所述膜(22)上的测量位置(29)所反映，且所述光学图像通过所述摄像机(25)被检测。”
复审请求人同时提交了如下证据：在互联网站上获得的EDMUND OPTICS公司、NEWPORT CORPORATION公司出品的薄膜分光器的产品数据，共5页。
复审请求人在意见陈述书中陈述了本申请权利要求具备创造性的理由：1、对比文件2没有公开本申请权利要求1的技术特征“所述载体(21)具有平坦的基体，所述平坦的基体在用于X射束(19)的通窗的区域内具有凹口(23)，并且在所述载体(21)的外侧上将所述平坦的基体和所述凹口(23)覆盖的膜(22)形成所述镜层(28)”，对比文件2没有描述框架的具体结构，更没有描述框架是否在一平坦基体上设置凹口，并且对比文件2使膜在框架上延展的功能性方面与对比文件1限定的将膜以无张力方式粘接在凹口上的技术特征并不等同。2、对比文件2说明书记载了其反射的、光学平坦式薄膜分光器可通过供应商EDMUND OPTICS公司或NEWPORT CORPORATION公司购得，复审请求人提交了在互联网站上获得的EDMUND OPTICS公司、NEWPORT CORPORATION公司出品的薄膜分光器的产品数据，其中框架均不是玻璃；而使用玻璃形成框架并不属于本领域公知常识。3、修改后的权利要求12限定了“X射束首先进入并穿过所述载体的凹口并且随后穿过所述膜”。而对比文件2中的X射束是同时穿过凹口和膜，因为它们处于一个共用的平面之中。因此修改后的权利要求12具备创造性。
在上述程序的基础上，本案合议组认为本案事实已经清楚，可以作出审查决定。
二、决定的理由
（一）审查文本
复审请求人在答复复审通知书时提交了权利要求书的全文修改替换页，经查，其修改符合专利法第33条的规定。本复审请求审查决定针对的文本为：2015年09月01日进入中国国家阶段时提交的国际申请文件的中文译文的说明书第1-42段、说明书附图、说明书摘要、摘要附图；2019年06月05日提交的权利要求第1-12项。
（二）关于专利法第22条第3款
专利法第22条第3款规定：创造性，是指与现有技术相比，该发明具有突出的实质性特点和显著的进步，该实用新型具有实质性特点和进步。
如果一项权利要求请求保护的技术方案相对于作为最接近现有技术的对比文件存在区别技术特征，该区别技术特征的一部分被另一篇对比文件公开，并且其在该另一篇对比文件和本申请的技术方案中所起的作用相同，该区别技术特征的其他部分属于本领域的公知常识，那么本领域技术人员在上述对比文件以及本领域公知常识结合的基础上得到该权利要求请求保护的技术方案是显而易见的，该权利要求不具备创造性。
1、权利要求1请求保护一种用于X射线荧光分析装置的光学镜，对比文件1公开了一种用于X射线荧光检测装置的光学镜，具体公开了以下技术特征（参见说明书第1页第83-108行，附图3）：X射线荧光装置具有X射线管10（相当于X射线源），用来利用X射线束辐照试样12；X射线探测器14，用于测量由试样发出的X射线荧光辐射；人眼或显微镜，用于经由光学镜13产生试样的被辐照的测量位置的情况图像（相当于光学控制图像）；光学镜13在X射线源的射束路径中成角度地布置，光学镜13通过将SiO2或有机薄膜镀铝以获得反射面。
权利要求1与对比文件1的区别在于：（1）还包括摄像机。（2）光学镜包括载体，在载体上设置有镜层，载体具有平坦的基体，平坦的基体在用于X射束的通窗的区域内具有凹口，并且在载体的外侧上将平坦的基体和凹口覆盖的膜形成镜层，膜被粘接至载体并且以无张力的方式覆盖载体的凹口，并且其中平坦的基体由玻璃制成。
对于区别技术特征（1），采用摄像机来获取试样的光学控制图像，这属于本领域的常用技术手段。
对于区别技术特征（2），对比文件2公开了一种用于X射线成像装置的X射线光学对准系统，并具体公开了以下技术特征（参见说明书第0030段，附图3a-3c）：光学平坦薄膜202（相当于光学镜）是由涂覆有薄金属层（如铝）的聚合物薄膜（相当于镜层、膜）制成，对激光波长具有高反射特性，薄膜在刚性框架（相当于载体、基体）上延展来获得光学平坦（相当于“载体具有平坦的基体，其在用于X射束的通窗的区域内具有凹口，在载体上将平坦的基体和凹口覆盖的膜形成镜层”）；薄膜的反射光线表面是平坦的，非常薄，对X射线的衰减几乎忽略不计。由此可见，对比文件2公开了上述区别技术特征（2）中描述的光学镜结构，其在对比文件2中与在本申请中所起的作用相同，都是形成通过X射线的透光膜，即对比文件2给出了结合到对比文件1的技术启示。并且，将膜覆盖在载体的外侧上对于本领域技术人员来说是容易想到的；通过粘接的方式连接膜与载体属于本领域常规的将两部件相互固定的方式；为了避免因膜层内部的应力破坏镜层的光学特性，以无张力的方式覆盖载体的凹口也属于本领域的常规技术手段；选用玻璃形成基体材料属于本领域技术人员通过其常规设计能力即可选择实现。
因此，权利要求1相对于对比文件1、对比文件2以及本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
2、权利要求2-8是从属权利要求。对比文件2还公开了（参见说明书第0030段，附图3a-3c）：光学平坦薄膜202是由涂覆有薄金属层（如铝）的聚合物薄膜（相当于镜层、膜）制成，厚度为5微米级，并且由附图3a、3c可以看到凹口为圆孔；薄膜在刚性框架（相当于载体、基体）上延展来获得光学平坦（相当于“镜面化的膜被铺设到框架上或附到框架上”）。由此可见，对比文件2公开了权利要求2、4-7的附加技术特征以及权利要求8的部分附加技术特征。对于权利要求3限定的具体材料以及权利要求8限定的框架形状，这种材料和形状的选择均属于本领域技术人员通过其常规设计能力即可设置实现的，无需付出创造性劳动。
因此，当其引用的权利要求不具备创造性时，权利要求2-8也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
3、权利要求9请求保护一种X射线荧光分析装置，对比文件1公开了一种用于X射线荧光检测装置，具体公开了以下技术特征（参见说明书第1页第83-108行，附图3）：X射线荧光装置具有X射线管10（相当于X射线源），用来利用X射线束辐照试样12；X射线探测器14，用于测量由试样发出的X射线荧光辐射；人眼或显微镜，用于经由光学镜13产生试样的被辐照的测量位置的情况图像（相当于光学控制图像）；光学镜13在X射线源的射束路径中成角度地布置，光学镜13通过将SiO2或有机薄膜镀铝以获得反射面。
权利要求9与对比文件1的区别在于：（1）还包括摄像机。（2）光学镜是根据权利要求1所述形成的光学镜。
对于区别技术特征（1），采用摄像机来获取试样的光学控制图像，这属于本领域的常用技术手段。
对于区别技术特征（2），参考针对权利要求1的评述。
因此，权利要求9相对于对比文件1、对比文件2以及本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
4、权利要求10-11是从属权利要求。
对于权利要求10，采用摄像机来获取试样的光学控制图像，这属于本领域的常用技术手段，而进一步采用内窥镜来实现摄像机的作用，这也是本领域技术人员容易想到的。
对于权利要求11，对比文件1还公开了（参见说明书第1页第83-108行，附图3）：在X射线管10下方有准直器11，用于准直从X射线管出射的X射线，使X射线对准辐照在试样12的点P处。在此基础上，采用单毛细管镜片或多毛细管镜片布置在光学镜之前实现准直的功能，这属于本领域的常用技术手段。
因此，当其引用的权利要求不具备创造性时，权利要求10-11也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
5、权利要求12请求保护一种用于对试样进行X射线荧光分析的方法，对比文件1公开了一种用于X射线荧光检测装置和检测方法，具体公开了以下技术特征（参见说明书第1页第83-108行，附图3）：X射线荧光装置具有X射线管10（相当于X射线源），用来利用X射线束辐照试样12；X射线探测器14，用于测量由试样发出的X射线荧光辐射；人眼或显微镜，用于经由光学镜13产生试样的被辐照的测量位置的情况图像（相当于光学控制图像）；光学镜13在X射线源的射束路径中成角度地布置，光学镜13通过将SiO2或有机薄膜镀铝以获得反射面。检测方法包括：试样利用来自X射线管的X射束被辐照，由试样发出的X射线荧光辐射利用X射线探测器被测量，试样的测量位置的光学控制图像利用人眼或显微镜经由光学镜产生，光学镜在X射线管的射束路径中成角度地布置；光学镜由X射束穿透，并且，光学图像由试样在膜上的测量位置所反映。
权利要求12与对比文件1的区别在于：（1）X射线荧光分析的方法用于确定薄层的厚度，利用复色X射束，光学图像通过摄像机被检测。（2）光学镜是权利要求1至8中任一所述的光学镜，其中X射束首先进入并穿过载体的凹口并且随后穿过膜。
对于区别技术特征（1），通过对试样进行X射线荧光分析来确定试样薄层的厚度属于本领域的常用技术手段；复色X射束属于X射线荧光分析中常用的X射束形式；采用摄像机来获取试样的光学控制图像，也属于本领域的常用技术手段。
对于区别技术特征（2），结合针对权利要求1-8的评述，对比文件2公开了光学镜结构，其在对比文件2中与在本申请中所起的作用相同，都是形成通过X射线的透光膜，即对比文件2给出了结合到对比文件1的技术启示。在此基础上，进一步设置光线穿过光学镜各部分的先后顺序，这属于本领域的常规技术手段。
因此，权利要求12相对于对比文件1、对比文件2以及本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
（三）关于复审请求人的意见陈述
针对复审请求人在答复复审通知书时的意见陈述，合议组经查认为：
对于理由1，正如针对权利要求1的评述，对比文件2公开了（参见说明书第0030段，附图3a-3c）：光学平坦薄膜202是由涂覆有薄金属层（如铝）的聚合物薄膜制成，对激光波长具有高反射特性，薄膜在刚性框架上延展来获得光学平坦；薄膜的反射光线表面是平坦的，非常薄，对X射线的衰减几乎忽略不计。对比可知，对比文件2的光学平坦薄膜相当于光学镜，刚性框架相当于载体，聚合物薄膜相当于镜层、膜；结合附图3可以看到，框架中间具有凹口，并且框架具有平坦的基体。由此可见，对比文件2公开了光学镜结构，其在对比文件2中与在本申请中所起的作用相同，都是形成通过X射线的透光膜，即对比文件2给出了结合到对比文件1的技术启示。并且，通过粘接的方式连接膜与载体属于本领域常规的将两部件相互固定的方式；为了避免因膜层内部的应力破坏镜层的光学特性，以无张力的方式覆盖载体的凹口也属于本领域的常规技术手段。
对于理由2，关于载体材料，虽然对比文件2中引用的供应商提供的材料并不是玻璃，但是在光学领域，使用玻璃作为光学元件的材料，这属于公知惯用的技术手段。因此，选用玻璃形成基体材料属于本领域技术人员通过其常规设计能力即可选择实现的，其所能获得的技术效果也是可以预料的。
对于理由3，对比文件2中框架与薄膜二者并不是处于一个共用的平面之中的，因为框架必然是具有一定的厚度的，即光线需要依次穿过框架的凹口和薄膜，或者依次穿过薄膜和框架的凹口。虽然对比文件2没有明确公开框架与薄膜沿着光线传播方向的设置顺序，但是在此基础上，进一步设置光线穿过光学镜各部分的先后顺序，这属于本领域的常规技术手段。
因此，合议组对复审请求人的上述意见陈述不予支持。
决定
维持国家知识产权局于2018年06月12日针对本申请作出的驳回决定。
如对本复审请求审查决定不服，根据专利法第41条第2款的规定，复审请求人可以自收到本决定之日起三个月内向北京知识产权法院起诉。
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