发明创造名称：多层信息存贮系统
外观设计名称：
决定号：17046
决定日：2011-08-04
委内编号：4W100628
优先权日：
申请（专利）号：95190979.7
申请日：1995-08-16
复审请求人：
无效请求人：北京法大园科技有限公司
授权公告日：2002-04-17
审定公告日：
专利权人：皇家菲利浦电子有限公司
主审员：
合议组组长：翁晓君
参审员：喻颖
国际分类号：G11B 7/00;G11B 7/13;G11B 7/24;G11B 11/10
外观设计分类号：
法律依据：专利法第26条第3款;专利法实施细则第20条第1款;专利法实施细则第21条第2款;专利法第26条第4款
决定要点：对于本专利说明书中的部分技术术语，如果本领域技术人员能够判断其为明显笔误，则不会影响本专利所要求保护的技术方案的实施。权利要求中的保护范围应当根据其所用词语的含义来理解，并且需要对该词语进行具体限定，否则将导致权利要求的保护范围不清楚。判断一项权利要求是否缺少必要技术特征，应当以该权利要求所记载的技术方案是否能够解决其所要解决的技术问题为判断标准，如果该权利要求记载的技术方案足以能够解决其所要解决的技术问题，获得相应技术效果，则该权利要求不缺少必要技术特征。在判断权利要求是否得到说明书的支持时，应当考虑说
全文：
一、案由
本无效宣告请求审查决定涉及国家知识产权局于2002年04月17日授权公告的、名称为“多层信息存贮系统”的95190979.7号PCT发明专利权（下称本专利），其最早优先权日为1994年08月23日，申请日为1995年08月16日，专利权人为皇家菲利浦电子有限公司。
本专利授权公告时的权利要求书的内容如下：
“1.一个信息存贮系统，该系统包括一个含有被隔离层一一分开的一个信息层堆栈的光学记录载体和一个用于扫描该信息层的装置，该装置包括一个辐射源、用于有选择地将辐射源的辐射光束聚焦在各信息层上的聚焦装置以及一个聚焦伺服系统，
其特征在于每个隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍。
2.如权利要求1的信息存贮系统，其特征在于隔离层的厚度小于隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的4倍。
3.如权利要求1或2的信息存贮系统，其特征在于该聚焦装置在辐射光束中引入一个固定的、与堆栈相关的球面象差以使此象差能补偿当辐射光束被聚焦在信息层堆栈的一半高度处时产生的球面象差。
4.如权利要求1或2的信息存贮系统，其特征在于该堆栈的厚度小于一个值2d，2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数。
5.如权利要求4的信息存贮系统，其特征在于2d也是所能容许的由球面象差引起的扫描点的Strehl强度最大降低量的一个函数。
6.如权利要求5的信息存贮系统，其特征在于2d被定义为
其中n是隔离层的折射率，λ是辐射光束的真空波长，NA是聚焦设备的数值孔径，r是最大可容许的由球面象差引起的Strehl强度的降低。
7.如权利要求6的信息存贮系统，其中该记录载体包含一个透明衬底，该衬底的一面是辐射光束的入口面，另一面为所述堆栈，其特征在于该堆栈的厚度小于2d减去衬底的厚度容限。
8.一种用于权利要求1的信息存储系统中的设备，该设备用于扫描在一个光学记录载体中由隔离层分开的信息层，该设备包括一个辐射源，用于有选择地将辐射源的辐射光束聚焦在各信息层上的聚焦装置以及一个聚焦伺服系统，
其特征在于该聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层折射率的1.5倍。
9.如权利要求8的设备，其特征在于该聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层的折射率的4倍。
10.一个用于扫描一个光学记录载体的信息层的装置，该装置含有一个辐射源、用于有选择地将该辐射源的辐射光束聚焦在各信息层上的聚焦装置和一个包括具有一个对辐射敏感的表面的检测系统的伺服系统，其特征在于对辐射敏感的表面的最大尺寸小于当辐射光束被最佳聚焦在要扫描的信息层上时来自记录载体的辐射在该对辐射敏感的表面上形成的辐射光点的直径的3倍。
11.如权利要求10的装置，其中在辐射源和聚焦装置之间的光路上安放了分离装置以从辐射光束产生两个伺服光束和一个主光束，其特征在于主光束的功率小于每个伺服光束的功率的6倍。
12.一个在记录载体的不同高度上有多个信息层的光学记录载体，该信息层被隔离层分开，该记录载体适合于用有固定球面象差补偿的聚焦辐射光束进行阅读，其特征在于最高和最低信息层的问距小于由下式定义的值2d
其中n是隔离层的折射率，λ是被聚焦的辐射光束的真空波长，NA是聚焦辐射光束的数值孔径，r是0.01。
13.如权利要求12的光学记录载体，它包括一个透明的衬底，衬底的一边是辐射光束的入口面，另一边是所述堆栈，其特征在于最高和最低信息层的间距小于2d减去该衬底的厚度容限。
14.一个用于扫描一个光学记录载体的装置，该光学记录载体具有一个被一个或多个隔离层一一分开的信息层堆栈，该装置含有一个辐射源、用于有选择地将该辐射源的辐射光束聚焦在各记录层上的聚焦装置，其特征在于该聚焦装置在辐射光束中引入一个与堆栈相关的球面象差以使此象差能补偿当辐射光束在经过该记录介质被聚焦在信息层堆栈的一半高度处时产生的球面象差。
15.如权利要求14的装置，其特征在于该装置具有一个聚焦伺服系统，用于扫描一个堆栈中的信息层，该堆栈的厚度小于一个值2d，2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数。
16.如权利要求15的装置，其特征在于2d被定义为
其中n是隔离层的折射率，λ是辐射光束的真空波长，NA是聚焦设备的数值孔径，r是最大可容许的由球面象差引起的Strehl强度的降低。
17.如权利要求16的装置，其特征在于r为0.05。
18.如权利要求16的装置，其特征在于r为0.01。
19.一种光学记录载体，其可由入射在该记录载体的入口面并由聚焦装置聚焦的辐射束扫描，该聚焦装置具有在辐射光束通过一个具有一个折射率的预定厚度的透明材料被聚焦时对所产生的球面象差进行补偿的球面象差校正功能，该记录载体包括一个被一个或多个隔离层一一分开的信息层堆栈，其特征在于该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率基本上等于该透明材料的厚度和折射率。
20.如权利要求19的光学记录介质，其特征在于该堆栈的厚度小于一个值2d，2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数。
21.如权利要求20的光学记录介质，其特征在于2d被定义为
其中n是隔离层的折射率，是辐射光束的真空波长，NA是聚焦设备的数值孔径，r是最大可容许的由球面象差引起的Strehl强度的降低。
22.如权利要求21的光学记录载体，其特征在于r为0.05。
23.如权利要求21的光学记录载体，其特征在于r为0.01。
24.如权利要求20的光学记录载体，其特征在于该记录载体包括一个透明的衬底，衬底的一边是入口面，另一边是所述堆栈。
25.如权利要求24的光学记录载体，其特征在于该堆栈的厚度小于2d减去衬底的厚度容限。”
针对本专利，北京法大园科技有限公司（下称请求人）于2010年12月01日向专利复审委员会提出了无效宣告请求，请求宣告本专利权利要求1、3-8、13-15及19-25无效，请求人未提交任何证据，其具体无效理由是：
（1）权利要求4、5、7、13、15及19-25限定的保护范围不清楚，不符合专利法实施细则第20条第1款的规定，其中：权利要求4限定了“2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数”，该“函数”是什么样的函数不清楚；权利要求5限定了“2d也是所能容许的由球面象差引起的扫描点的Strehl强度最大降低量的一个函数”，该函数是什么样的函数不清楚；权利要求7中的“衬底的厚度容限”的含义不清楚，导致保护范围不清楚；权利要求13中的“衬底的厚度容限”的含义不清楚，导致保护范围不清楚；权利要求15中限定了“2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数”，而该“函数”是什么样的函数不清楚，导致保护范围不清楚；权利要求19中“透明材料”是否是“光学记录载体”的一部分不清楚，“信息堆栈”与“透明材料”的位置关系不清楚，另外，如果“透明材料”在“入口面”和“信息堆栈”之间，权利要求19记载的“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度…基本上等于该透明材料的厚度…”的含义不清楚；权利要求20-25是权利要求19的从属权利要求，由于权利要求20-25未对权利要求19的不清楚之处作出澄清，导致权利要求20-25限定的保护范围也不清楚；权利要求20中限定了“2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数”，而该“函数”是什么样的函数不清楚，导致保护范围不清楚；权利要求24中的“衬底”与权利要求19中的“透明材料”之间的关系不清楚，另外，如果“衬底”等同于“透明材料”，则“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度…基本上等于该透明材料的厚度…”的含义不清楚，导致保护范围不清楚；权利要求25中的“衬底的厚度容限”的含义不清楚，导致保护范围不清楚；
（2）权利要求1及3-8缺少解决技术问题的必要技术特征，不符合专利法实施细则第21条第2款的规定，其中：权利要求1限定了“隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍”，只限定了隔离层的厚度的下限，而没有限定隔离层的厚度的上限，当隔离层的厚度超过一定的上限，会导致权利要求1的技术方案无法实施，因此权利要求1中缺少限定隔离层的厚度的上限的必要技术特征；权利要求3-7是权利要求1的从属权利要求，权利要求3-7在没有直接或者间接引用权利要求2的情况下，同样缺少限定隔离层的厚度的上限的必要技术特征；权利要求8限定了“聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层折射率的1.5倍”，只限定了S曲线的峰峰间距的上限，而没有限定S曲线的峰峰间距的下限，当S曲线的峰峰间距低于一定的下限，会导致权利要求8的技术方案无法实施，因此权利要求8中缺少限定S曲线的峰峰间距的下限的必要技术特征；
（3）权利要求14及19-25没有以说明书为依据，因而不符合专利法26条第4款的规定，其中：权利要求19的技术特征“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率基本上等于该透明材料的厚度和折射率”在说明书中没有记载，未以说明书为依据；权利要求20-25是权利要求19的从属权利要求，权利要求20-25都未以说明书为依据对上述技术特征进行进一步限定，因此，权利要求20-25也未以说明书为依据；权利要求14对聚焦装置进行了功能性限定“该聚焦装置在辐射光束中引入一个与堆栈相关的球面象差以使此象差能补偿当辐射光束在经过该记录介质被聚焦在信息层堆栈的一半高度处时产生的球面象差”，但是说明书中只公开了一种与光学记录载体具有如下关系的聚焦装置以实现该功能：堆栈的厚度小于一个值2d，，其中n是隔离层的折射率，是辐射光束的真空波长，NA是聚焦设备的数值孔径．r是最大可容许的由球面象差引起的strehl强度的降低，本领域技术人员无法想到其他的聚焦装置也可以实现上述功能，因此权利要求14概括了较宽的保护范围，未以说明书为依据；
（4）权利要求19-25的修改超出原说明书和权利要求书记载的范围，权利要求19-25是在审查阶段新增加的权利要求，上述权利要求的技术方案在原说明书和权利要求书中没有记载，因而不符合专利法第33条的规定。
经形式审查合格，专利复审委员会依法受理了上述无效宣告请求，于2010年12月13日向请求人和专利权人发出无效宣告请求受理通知书，同时将请求人提交的无效宣告请求书及附页转给了专利权人，并要求专利权人在指定期限内陈述意见。
针对上述无效宣告请求，专利权人于2011年01月27日提交了意见陈述书，并认为：
（1）专利权人认为权利要求4、5、15和20中的所述特征是清楚的，符合专利法第26条第4款（即旧专利法实施细则第20条第1款）的规定，首先，“2d是某一参数的函数”的措辞对于本领域技术人员而言是一种常规且清楚的表述，其含义为：2d随着所述参数的变化进行变化，其次，权利要求4、5、15和20中的上述特征将权利要求的范围清楚地限定为2d随着所述参数的变化进行变化的情况，而2d不随所述参数进行变化（即，2d与所述参数无关）的情况并不属于上述权利要求的范围，本领域技术人员能够很容易地判断2d的值是否随着所述参数的变化进行变化，参见本专利说明书第14页倒数第10行至第15页第7行的示例；权利要求7、13和25中的“衬底的厚度容限”含义清楚，完全符合专利法第26条第4款的规定，首先，“容限”是本领域技术人员公知的一个术语，其表示某参数的可允许的误差范围，其次，本专利说明书中对“衬底的厚度容限”也进行了清楚地描述，可参见说明书第5页第2段以及第14页倒数第10行至第15页第7行，其清楚地示出了所述厚度容限指的是所述衬底厚度相对于标称厚度的变动范围；权利要求19中“透明材料”及其相关特征的表述是清楚的，权利要求19保护了一种光学记录载体，其可由入射在该记录载体的入口面并由聚焦装置聚焦的辐射束扫描，所述聚焦装置具有对辐射束产生的球面象差进行补偿的球面象差校正功能，且该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率产生的球面象差基本等于所述聚焦装置所补偿的球面象差（参见说明书第3页第13行至第4页第9行），因此，权利要求19中的“透明材料”实质上指代的是后面提到的“记录载体从入口面到信息层堆栈一半高度”部分，本领域技术人员都很明确：“记录载体从入口面到信息层堆栈一半高度”的部分必定都是透明材料，否则当使用辐射束入射到记录载体入口面来扫描记录载体时就无法对各信息层进行读取；特征“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率基本上等于该透明材料的厚度和折射率”是对所述指代的进一步明确，在权利要求19清楚的基础上，从属权项20-25也相应地是清楚的；
（2）根据本专利，权利要求1所述方案所要解决的技术问题是：提供一种信息存贮系统，信息载体上的各信息层能被适当地扫描，同时价格较低（参见说明书第2页第7，8行），所述技术问题通过权利要求1所述的必要技术特征“每个隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍”得以解决，通过所述特征，隔离层的最小厚度使记录载体具有高的信息密度，或低的单位信息成本，并且载体上信息层能被适当地扫描（参见说明书第2页第9-25行），因此隔离层的最小厚度是解决所述技术问题的必要技术特征，对于隔离层厚度的上限，其与解决所述技术问题并不相关，即所述上限并非解决所述技术问题的必要技术特征，因此不必被包括在权利要求1中，当本领域技术人员实施本专利时，其根据本专利说明书的记载（参见说明书第2页倒数第1行至第3页第3行），应当能够明了如何选择隔离层厚度的上限；在独立权利要求1符合实施细则第21条第2款的情况下，权利要求3-7同样也满足实施细则第21条第2款的规定；权利要求8所要解决的技术问题对应于权利要求1中所述的相同问题，根据说明书第2页第9-25行，S曲线峰峰间距的上限为解决所述技术问题的必要技术特征；而S曲线峰峰间距的下限与解决所述技术问题并不相关，即所述下限并非解决所述技术问题的必要技术特征，因此不必被包括在权利要求8中；
（3）权利要求19中的“透明材料”实质上指代的是后面提到的“记录载体从入口面到信息层堆栈一半高度”部分，特征“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率基本上等于该透明材料的厚度和折射率”是对所述指代的进一步明确，因此权利要求19实质上限定了“记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度”部分所产生的球面象差基本上能够被“聚焦装置”所具有的“球面象差校正功能”所补偿，这些在说明书的上述部分中得到了具体地记载和阐释；除了说明书记载的与具有权利要求16所述堆栈厚度的记录载体一起工作的聚焦装置，本领域技术人员还能想到其它聚焦装置以实现权利要求14所述功能，因此，权利要求14完全能够得到说明书的支持；
（4）权利要求19中的“透明材料”实质上指代的是后面提到的“记录载体从入口面到信息层堆栈一半高度”部分，并且本领域技术人员都很明确：“记录载体从入口面到信息层堆栈一半高度”的部分必定都是透明材料；特征“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率基本上等于该透明材料的厚度和折射率”是对所述指代的进一步明确。因此，权利要求19实质上限定了“记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度”部分所产生的球面象差基本上能够被“聚焦装置”所具有的“球面象差校正功能”所补偿，此外，说明书第3页13行-第4页第9行的部分记载了权利要求19所定义的技术方案，所以，权利要求19完全没有超出原始说明书和权利要求书记载的范围；权利要求20的附加技术特征在原权利要求4部分有记载；权利要求21的附加技术特征在原权利要求6的部分有具体记载；权利要求22的附加技术特征在原权利要求10的部分有相应记载；权利要求23的附加技术特征在原权利要求11的部分有具体记载；权利要求24的附加技术特征在图5和说明书第14页的第3段部分有明确记载；权利要求25的附加技术特征在说明书第5页第2段最后一句部分有具体记载，所以，权利要求20-25完全没有超出原始说明书和权利要求书记载的范围。
请求人于2011年12月30日提交了无效宣告请求补充意见陈述书，请求宣告本专利权利要求1-25无效，请求人未提交任何证据，请求人在2010年12月01日提出的无效理由的基础上，新增了以下无效理由：
（1）本专利说明书没有对发明作出清楚完整的说明，不符合专利法第26条第3款的规定，导致整个专利无效，说明书第9页第8-10行记载了：“分别将对象角限的信号相加得到两个和，比较两个和之间的差异就得到聚集误差信号”，这里什么是“对象角限的信号”不清楚，从而如何得到聚焦误差信号不清楚，在本专利中，如何获得聚焦误差信号是重要的环节，如何获得聚焦误差信号不清楚导致本专利的技术方案不清楚，因此，本专利全部无效；
（2）权利要求1-9未能清楚地说明该发明的技术特征和请求保护的范围，因而不符合专利法实施细则第20条第1款的规定，其中：权利要求1中记载了“聚焦伺服系统的S曲线”，“聚焦伺服系统的S曲线”不是标准技术术语，另外，说明书中只定义了“信息层的S曲线”，但没定义“聚焦伺服系统的S曲线”，“聚焦伺服系统的S曲线”可以具有各种各样的含义，从权利要求书和说明书中也无法唯一地确定“聚焦伺服系统的S曲线”的含义，因此，权利要求1不清楚，权利要求2-9中都直接或间接记载了“聚焦伺服系统的S曲线”，与以上理由类似，“聚焦伺服系统的S曲线”的含义都不明确，因此，权利要求2-9也都不清楚；
（3）权利要求1-11缺少解决技术问题的必要技术特征，因而不符合专利法实施细则第21条第2款的规定，其中：权利要求1限定了“隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍”，根据说明书第10页倒数第3行到倒数第1行的记载：“S曲线的距离最好至少是曲线峰峰间距Sp的4倍以上以避免失调和非对称。相应地信息层的最小距离是4nSp”，根据说明书第11页最后一段的记载“图4中的虚线表示小的检测系统16对S曲线的影响。每个S曲线的总长度被降低到小于Sp长度的两倍，从而也降低S曲线39对S曲线35的串音。这时信息层的最小间距可以降为1.5nSp”，可见，权利要求1中限定的隔离层的厚度的下限是有前提条件的，即，聚焦伺服系统要使用小的检测系统，如说明书第11页第9-11行的记载：“对辐射敏感的表面的尺寸做得比普通装置的小。对辐射敏感的表面的最大尺寸最好小于当辐射光束被光学聚焦在信息层上时在其表面上产生的光点的直径的3倍”，也就是说，如果使用普通装置的辐射敏感的表面，当前的权利要求不能实现发明的目的，因此，权利要求1缺少对于辐射敏感表面的尺寸的限定；权利要求2-7是权利要求1的从属权利要求，类似地，权利要求2-7缺少限定限定敏感表面的尺寸的必要技术特征；权利要求8同样缺少对于辐射敏感表面的尺寸的限定；权利要求9是权利要求8的从属权利要求，类似地，权利要求9缺少限定限定敏感表面的尺寸的必要技术特征；权利要求10限定了“对辐射敏感的表面的最大尺寸小于当辐射光束被最佳聚焦在要扫描的信息层上时来自记录载体的辐射在该对辐射敏感的表面上形成的辐射光点的直径的3倍”，根据说明书第6页第2-3行的记载“然后，对辐射敏感的表面应有一个确定的最小尺寸以使它能产生一个令人满意的聚焦误差信号”，可见，权利要求10缺少限定“辐射敏感的表面的最小尺寸”必要技术特征；权利要求11是权利要求10的从属权利要求，权利要求11同样缺少限定“辐射敏感的表面的最小尺寸”必要技术特征；
（4）权利要求1-9、20没有以说明书为依据，因而不符合专利法26条第4款的规定；权利要求1记载了“聚焦伺服系统的S曲线”，但是说明书中没有记载何谓“聚焦伺服系统的S曲线”，因此权利要求1没有以说明书为依据，权利要求2-9中都直接或间接记载了“聚焦伺服系统的S曲线”，与以上理由类似，权利要求2-9也都没有以说明书为依据；此外，权利要求1限定了“隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍”，根据说明书第10页倒数第3行到倒数第1行的记载：“S曲线的距离最好至少是曲线峰峰间距Sp的4倍以上以避免失调和非对称。相应地信息层的最小距离是 4nSp”，根据说明书第11页最后一段的记载“图4中的虚线表示小的检测系统16对S曲线的影响。每个S曲线的总长度被降低到小于Sp长度的两倍，从而也降低S曲线39对S曲线35的串音。这时信息层的最小间距可以降为1.5nSp”，可见，权利要求1中限定的隔离层的厚度的下限是有前提条件的，即，聚焦伺服系统要使用小的检测系统，如说明书第11页第9-11行的记载：“对辐射敏感的表面的尺寸做得比普通装置的小。对辐射敏感的表面的最大尺寸最好小于当辐射光束被光学聚焦在信息层上时在其表面上产生的光点的直径的3倍”，也就是说，说明书的实施例中只公开了对于小的检测系统的情况下隔离层的厚度的下限是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍，而对于普通的检测系统或者大的检测系统是不适用的，因此权利要求1概括了较大的保护范围，得不到说明书的支持；权利要求2-7是权利要求1的从属权利要求，类似地，权利要求2-7也得不到说明书的支持；权利要求4限定了“2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数”，说明书中只公开了该函数是这样一个很具体的实施例，本领域的技术人员无法想到其他的函数也可以实现本专利的发明目的，因此权利要求4概括了较宽的保护范围，未以说明书为依据；类似地，权利要求20也没有以说明书为依据；权利要求5限定了“2d也是所能容许的由球面象差引起的扫描点的Strehl强度最大降低量的一个函数”。说明书中只公开了该函数是这样一个很具体的实施例，本领域的技术人员无法想到其他的函数也可以实现本专利的发明目的，因此权利要求5概括了较宽的保护范围，未以说明书为依据；权利要求8限定了“聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层折射率的1.5倍”，根据说明书第10页倒数第3行到倒数第1行的记载：“S曲线的距离最好至少是曲线峰峰间距Sp的4倍以上以避免失调和非对称。相应地信息层的最小距离是4nSp”，根据说明书第11页最后一段的记载“图4中的虚线表示小的检测系统16对S曲线的影响。每个S曲线的总长度被降低到小于Sp长度的两倍，从而也降低S曲线39对S曲线35的串音。这时信息层的最小间距可以降为1.5nSp”，可见，权利要求1中限定的隔离层的厚度的下限是有前提条件的，即，聚焦伺服系统要使用小的检测系统，如说明书第11页第9-11行的记载：“对辐射敏感的表面的尺寸做得比普通装置的小。对辐射敏感的表面的最大尺寸最好小于当辐射光束被光学聚焦在信息层上时在其表面上产生的光点的直径的3倍”，也就是说，说明书的实施例中只公开了对于小的检测系统的情况下聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层折 射率的1.5倍，而对于普通的检测系统或者大的检测系统是不适用的，因此权利要求8概括了较大的保护范围，得不到说明书的支持；权利要求9是权利要求8的从属权利要求，类似地，权利要求9也得不到说明书的支持。
随后，专利复审委员会依法成立合议组对本案进行审理。合议组于2011年03月15日向请求人发出转送文件通知书，将专利权人于2011年02月28日提交的意见陈述书转送给请求人，合议组另于2011年05月30日向双方当事人发出了口头审理通知书，定于2011年07月14日举行口头审理。
口头审理如期举行，双方当事人均出席了本次口头审理。双方当事人对对方出庭人员身份无异议，对合议组成员无回避请求。在口头审理过程中：
（1）请求人明确其无效宣告请求的理由及无效范围：① 说明书没有对发明作出清楚完整的说明，不符合专利法第26条第3款的规定，涉及权利要求1-25；② 权利要求1-9、13、15及19-25未能清楚地说明该发明的技术特征和请求保护的范围，因而不符合专利法实施细则第20条第1款的规定；③ 权利要求1-11缺少解决技术问题的必要技术特征，因而不符合专利法实施细则第21条第2款的规定；④ 权利要求1-9、14及19-25没有以说明书为依据，因而不符合专利法第26条第4款的规定；⑤ 权利要求19-25的修改超出原说明书和权利要求书记载的范围，因而不符合专利法第33条的规定。
（2）专利权人当庭提交了新的意见陈述书，该意见陈述书针对的是请求人于2011年12月30日提交的无效宣告请求补充意见陈述书。合议组当庭将其转文给请求人。
（3）对于权利要求19-25的修改不符合专利法第33条规定的无效理由，专利权人认为本专利是PCT申请，请求人没有提交外文证据，也没有提交外文证据的译文，没有尽到举证责任。合议组当庭指出，由于请求人在提出无效宣告请求和补充意见陈述时均没有对专利法第33条的无效宣告理由进行具体的陈述，也没有进行证据的举证，因此根据审查指南的相关规定，当庭宣布对专利法第33条的无效宣告理由不予审理。
（4）在口头审理过程中，双方当事人在坚持其原有书面意见的基础上详细阐述了各自的具体主张及理由，并表示在口头审理结束之后不再提交任何书面意见。
至此，合议组认为本案事实已经清楚，可以依法作出审查决定。
二、决定的理由
1、审理范围
专利权人未对权利要求书进行修改，本无效宣告请求审查决定以本专利授权公告时的权利要求书为基础。
请求人明确其无效理由和范围为：(1）本专利说明书没有对发明作出清楚完整的说明，不符合专利法第26条第3款的规定，涉及权利要求1-25；（2）权利要求1-9、13、15及19-25未能清楚地说明该发明的技术特征和请求保护的范围，因而不符合专利法实施细则第20条第1款的规定；（3）权利要求1-11缺少解决技术问题的必要技术特征，因而不符合专利法实施细则第21条第2款的规定；（4）权利要求1-9、14及19-25没有以说明书为依据，因而不符合专利法第26条第4款的规定。
2、关于专利法第26条第3款
专利法第26条第3款规定：说明书应当对发明或者实用新型作出清楚、完整的说明，以所属技术领域的技术人员能够实现为准；必要的时候，应当有附图。摘要应当简要说明发明或者实用新型的技术要点。
请求人认为：说明书第9页第8-10行记载了：“分别将对象角限的信号相加得到两个和，比较两个和之间的差异就得到聚集误差信号”。这里什么是“对象角限的信号”不清楚，从而如何得到聚焦误差信号不清楚。在本专利中，如何获得聚焦误差信号是重要的环节，如何获得聚焦误差信号不清楚导致本专利的技术方案不清楚。
对此，合议组认为：本专利说明书第8页最后一行至第9页第4行记载了“聚焦误差信号即表示扫描点与信息层之间轴向距离的信号，可以通过美国专利No.4，023，033中介绍的所谓象散方法来得到。这时检测系统16的对辐射敏感的表面被分为四个象限16a、16b、16c、16d，如图2所示，每一象限均与处理电路17相连”；此外，参见图2所示，象限16a和16c构成对角，16b和16d构成对角。由于“角限”不属于本领域中的技术术语，不具有实际含义，本领域技术人员根据上下文可以确定“对象角限的信号”毫无疑义是“对角象限的信号”，即处于对角位置的象限的信号，例如对应于敏感表面中16a、16c部分的信号和16b、16d部分的信号，对角象限的信号相加，即如16a和16c的信号相加以及16b和16d的信号相加，分别得到的两个和，比较这两个和即可得到聚焦误差信号。因此，“对象角限”属于明显的笔误，本领域技术人员都知晓其正确含义应为“对角象限”，上述笔误不足以导致本领域技术人员对本专利的技术方案产生错误的理解，也不足以阻碍本领域技术人员对技术方案的实施，本领域技术人员能够根据本专利说明书记载的内容，实现本专利的技术方案，解决其技术问题，并且产生预期的技术效果。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
3、关于专利法实施细则第20条第1款
专利法实施细则第20条第1款规定：权利要求书应当说明发明或者实用新型的技术特征，清楚、简要地表述请求保护的范围。
（1）请求人认为：权利要求1中记载了“聚焦伺服系统的S曲线”。“聚焦伺服系统的S曲线”不是标准技术术语。另外，说明书中只定义了“信息层的S曲线”，但没定义“聚焦伺服系统的S曲线”。“聚焦伺服系统的S曲线”可以具有各种各样的含义，从权利要求书和说明书中也无法唯一地确定“聚焦伺服系统的S曲线”的含义。因此，权利要求1不清楚。权利要求2-9中都直接或间接记载了“聚焦伺服系统的S曲线”，与以上理由类似，“聚焦伺服系统的S曲线”的含义都不明确。因此，权利要求2-9也都不清楚。
对此，合议组认为：本专利说明书第2页第4段中记载了“在聚焦伺服系统中，聚焦伺服系统使扫描装置将扫描点保持在要被扫描的层上，S曲线（即聚焦伺服系统作为扫描点与信息层之间距离的函数的响应曲线）的形状受相邻信息层的影响”，第10页第2段第3-4行记载了“图4表示聚焦误差信号作为扫描点15的轴向位移z的函数。曲线35即为信息层3的所谓S曲线”。即，根据图4所示，S曲线实际上反映出聚焦误差系统的聚焦误差信号与Z之间函数关系的曲线，其中Z值为光束的扫描点与信息层之间轴向距离。因此，本领域技术人员根据说明书的描述，可以确定权利要求1中的技术术语“聚焦伺服系统的S曲线”的含义是清楚的，其指的是聚焦误差信号与Z值之间函数关系曲线。而说明书中的“信息层的S曲线”，指的是扫描点在信息层3附近时所对应的“聚焦伺服系统的S曲线35”，如果激光光栅的扫描点在信息层4附近时所对应的S曲线39。本领域技术人员可以清楚地确定“聚焦伺服系统的S曲线”的含义，其限定的保护范围也是清楚的，同理，权利要求2-9也是清楚的。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（2）请求人认为：权利要求4、15、20限定了“2d是堆栈材料的折射率和聚焦装置的数值孔径的一个函数”，权利要求5限定了“2d也是所能容许的由球面象差引起的扫描点的Strehl强度最大降低量的一个函数”，上述“函数”是什么样的函数不清楚，导致权利要求4、5、15和20限定的保护范围不清楚。
专利权人认为：根据一般常识，函数表示输入值对应输出值的一种对应关系。也就是，因变量的变化取决于自变量的变化。所以，对于本领域技术人员而言，函数一词的含义是清楚的。这里只是表达和限定一种2d与某些值有依赖关系，其会随着某些值的变化而变化的定性属性，并非用来限定具体的变化关系的方式。在此，2d作为因变量，折射率和数值孔径为自变量，2d变化取决于折射率和数值孔径的变化。
对此，合议组认为：虽然本领域技术人员知晓，函数表示输入值对应输出值的一种对应关系，也就是，因变量的变化取决于自变量的变化。但由于权利要求4、5、15和20中限定的是2d与一个函数的数量关系，由于该函数的具体形式不清楚，因此导致2d的取值范围不清楚，从而使“小于2d”的数值范围也是不清楚的，因此权利要求4、5、15和20的保护范围均不清楚，不符合专利法实施细则第20条第1款的规定。
（3）请求人认为：权利要求7、13和25中的“衬底的厚度容限”的含义不清楚，导致权利要求7、13和25限定的保护范围不清楚。
对此，合议组认为：根据本领域技术人员知晓的一般常识，容限也称为容差或公差，它的技术含义是：针对目标参数值，所允许的最大变化值。容限或容差，一般前面限定正负号，表示目标值上下可允许的变动范围。同时在本专利说明书没有对该技术术语进行特殊解释的情况下，只能对该技术术语进行一般性的理解。所以本领域技术人员可以清楚地确定“衬底的厚度容限”的含义，其限定的保护范围也是清楚的。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（4）请求人认为：权利要求19限定的保护范围不清楚，“透明材料”是否是“光学记录载体”的一部分不清楚，“信息堆栈”与“透明材料”的位置关系不清楚，另外，如果“透明材料”在“入口面”和“信息堆栈”之间，权利要求19记载的“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度…基本上等于该透明材料的厚度…”的含义不清楚；权利要求20-25是权利要求19的从属权利要求，由于权利要求20-25未对权利要求19的不清楚之处作出澄清，导致权利要求20-25限定的保护范围也不清楚；权利要求24中的“衬底”与权利要求19中的“透明材料”之间的关系不清楚，另外，如果“衬底”等同于“透明材料”，则“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度…基本上等于该透明材料的厚度…”的含义不清楚。
对此，合议组认为：本专利说明书第14页第16行-第15页第7行记载了光学记录载体的具体结构，尤其在说明书第14页第16-19行记载了“图5表示包含了一个透明衬底41的记录载体40，该衬底在一侧具有一个使主光束入射的入口面42，在另一侧是包括信息3、4和5的堆栈2”，说明书第14页第18-19行记载了“对于该主光束在关于由一个具有标称厚度的衬底和由堆栈2的厚度的一半因此的球面象差方面进行校正”，此外，说明书第3页第17行-第4页第9行记载了有关球面象差补偿的内容，尤其在说明书第3页第24-25行记载了“通过下述这种方式来补偿辐射光束，即，使扫描点在堆栈约一半高度处基本上没有球面象差”。出于减小球面象差的目的，本领域技术人员可以从说明书的上述记载中，得到从入口面到堆栈一半高度部分是一个整体，相当于透明材料，两者的折射率和厚度基本相等，这样可以使球面象差减少到最小。权利要求19清楚地限定了其保护范围，其中，“透明材料”可视为光学记录载体的一部分，“透明材料”指的就是“记录载体中的从衬底入口面到信息层堆栈一半高度的那部分”，并且本领域技术人员都很明确这部分必定都是透明材料，否则当辐射束入射到记录载体入口面来扫描记录载体时就无法对各信息层进行读取；特征“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率基本上等于该透明材料的厚度和折射率”是对该记录载体的进一步限定。同理，权利要求20-25限定的保护范围也是清楚的。说明书第14页第16-19行记载了“图5表示包含了一个透明衬底41的记录载体40，该衬底在一侧具有一个使主光束入射的入口面42，在另一侧是包括信息3、4和5的堆栈2”，本领域技术人员可以从此记载得到权利要求24的技术特征，权利要求24限定的保护范围是清楚的。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
4、关于专利法实施细则第21条第2款
专利法实施细则第21条第2款规定：独立权利要求应当从整体上反映发明或者实用新型的技术方案，记载解决技术问题的必要技术特征。
（1）请求人认为：权利要求1限定了“隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍”，只限定了隔离层的厚度的下限，而没有限定隔离层的厚度的上限。当隔离层的厚度超过一定的上限，会导致权利要求1的技术方案无法实施。因此，权利要求1中缺少限定隔离层的厚度的上限的必要技术特征。权利要求3-7是权利要求1的从属权利要求，权利要求3-7在没有直接或者间接引用权利要求2的情况下，同样缺少限定隔离层的厚度的上限的必要技术特征。
对此，合议组认为：权利要求1请求保护的技术方案要解决的技术问题为：扫描光学记录载体时会产生串音，串音影响的程度依赖于来自信息层的辐射产生的信号的类型，因此本专利提供一个信息存储系统，它可以扫描多层记录载体，通过一个辐射光束能以独立于其他信息的方式对各个信息层进行扫描。本专利权利要求1限定了隔离层厚度的下限，这样可以避免对于不同信息层的聚焦误差信号之间的串扰问题，小于这个最小值的厚度，将会使得串音很大（参见第2页倒数第7行），也就是信息层间隔太小则会导致信号串扰。而隔离层厚度的上限不是解决避免串音问题的必要特征，厚度的上限仅解决的是记录载体太厚的问题，其满足本领域普通光学记录载体工艺标准即可。因此，权利要求1并不缺少解决其技术问题的必要技术特征，从属权利要求3-7也不缺少解决其技术问题的必要技术特征。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（2）请求人认为：权利要求1限定了“隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍”，根据说明书第10页倒数第3行到倒数第1行的记载：“S曲线的距离最好至少是曲线峰峰间距Sp的4倍以上以避免失调和非对称。相应地信息层的最小距离是4nSp”。根据说明书第11页最后一段的记载“图4中的虚线表示小的检测系统16对S曲线的影响。每个S曲线的总长度被降低到小于Sp长度的两倍，从而也降低S曲线39对S曲线35的串音。这时信息层的最小间距可以降为1.5nSp”。可见，权利要求1中限定的隔离层的厚度的下限是有前提条件的，即，聚焦伺服系统要使用小的检测系统，如说明书第11页第9-11行的记载：“对辐射敏感的表面的尺寸做得比普通装置的小。对辐射敏感的表面的最大尺寸最好小于当辐射光束被光学聚焦在信息层上时在其表面上产生的光点的直径的3倍”。也就是说，如果使用普通装置的辐射敏感的表面，当前的权利要求不能实现发明的目的。因此，权利要求1缺少对于辐射敏感表面的尺寸的限定。权利要求2-7是权利要求1的从属权利要求，类似地，权利要求2-7缺少限定敏感表面尺寸的必要技术特征。
对此，合议组认为：根据本专利说明书的记载，权利要求1请求保护的技术方案要解决的技术问题为：扫描光学记录载体时会产生串音，串音影响的程度依赖于来自信息层的辐射产生的信号的类型。因此为了解决上述技术问题，权利要求1提供了一种信息存储系统，它可以扫描多层记录载体，通过一个辐射光束能以独立于其他信息的方式对各个信息层进行扫描。而辐射敏感表面的尺寸与本专利要解决的技术问题无关，本专利说明书第6页第2-3行记载了“对辐射敏感的表面应有一个确定的最小尺寸以使它能产生一个令人满意的聚焦误差信号”，这表明采用较小尺寸的目的是产生令人满意的聚焦误差信号；另外，本专利说明书第6页第6-9行记载了“通过在辐射光束中放入一个光圈，限制射到该对辐射敏感的表面的辐射的范围，也可以在满足上述尺寸要求的同时使用具有较大的对辐射敏感的表面的检测系统”，这表明也可以采用较大的敏感辐射表面。因此辐射敏感表面的尺寸的限定不是解决技术问题的必要技术特征。权利要求1并不缺少解决其技术问题的必要技术特征，从属权利要求3-7也不缺少解决其技术问题的必要技术特征。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（3）请求人认为：权利要求8限定了“聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层折射率的1.5倍”，只限定了S曲线的峰峰间距的上限，而没有限定S曲线的峰峰间距的下限。当S曲线的峰峰间距低于一定的下限，会导致权利要求8的技术方案无法实施。因此，权利要求8中缺少限定S曲线的峰峰间距的下限的必要技术特征。
对此，合议组认为：根据本专利说明书的记载，权利要求8请求保护的技术方案要解决的技术问题为：扫描光学记录载体时会产生串音，串音影响的程度依赖于来自信息层的辐射产生的信号的类型。因此为了解决上述技术问题，权利要求8提供了一种用于信息存储系统的设备，它可以扫描多层记录载体，通过一个辐射光束能以独立于其他信息的方式对各个信息层进行扫描。而S曲线峰峰间距不是用于解决串音问题的，其与权利要求8要解决的技术问题无直接关联，本领域技术人员会根据设计需要或限制因素，而选择S曲线峰峰间距的下限。因此，权利要求8并不缺少解决其技术问题的必要技术特征。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（4）请求人认为：权利要求8缺少对于辐射敏感表面的尺寸的限定。权利要求9是权利要求8的从属权利要求，类似地，权利要求9缺少限定敏感表面的尺寸的必要技术特征。权利要求10缺少限定“辐射敏感的表面的最小尺寸”必要技术特征。权利要求11是权利要求10的从属权利要求，权利要求11同样缺少限定“辐射敏感的表面的最小尺寸”必要技术特征。
对此，合议组认为：根据本专利说明书的记载，权利要求8请求保护的技术方案要解决的技术问题为：扫描光学记录载体时会产生串音，串音影响的程度依赖于来自信息层的辐射产生的信号的类型，因此为了解决上述技术问题，权利要求8提供了一种用于信息存储系统的设备，它可以扫描多层记录载体，通过一个辐射光束能以独立于其他信息的方式对各个信息层进行扫描。而辐射敏感表面的尺寸与本专利要解决的技术问题无关，本专利说明书第6页第2-3行记载了“对辐射敏感的表面应有一个确定的最小尺寸以使它能产生一个令人满意的聚焦误差信号”，这表明采用较小尺寸的目的是产生令人满意的聚焦误差信号；另外，本专利说明书第6页第6-9行记载了“通过在辐射光束中放入一个光圈，限制射到该对辐射敏感的表面的辐射的范围，也可以在满足上述尺寸要求的同时使用具有较大的对辐射敏感的表面的检测系统”，这表明也可以采用较大的敏感辐射表面。因此辐射敏感表面的尺寸的限定不是解决技术问题的必要技术特征。权利要求8并不缺少解决其技术问题的必要技术特征，从属权利要求9也不缺少解决其技术问题的必要技术特征。同理，权利要求10并不缺少解决其技术问题的必要技术特征，其从属权利要求11也不缺少解决其技术问题的必要技术特征。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
5、关于专利法第26条第4款
专利法第26条第4款规定：权利要求书应当以说明书为依据，说明要求专利保护的范围。
（1）请求人认为：权利要求1记载了“聚焦伺服系统的S曲线”，但是说明书中没有记载何谓“聚焦伺服系统的S曲线”。因此权利要求1没有以说明书为依据。权利要求2-9中都直接或间接记载了“聚焦伺服系统的S曲线”，与以上理由类似，权利要求2-9也都没有以说明书为依据。
对此，合议组认为：本专利说明书第2页第4段中记载了“在聚焦伺服系统中，聚焦伺服系统使扫描装置将扫描点保持在要被扫描的层上，S曲线（即聚焦伺服系统作为扫描点与信息层之间距离的函数的响应曲线）的形状受相邻信息层的影响”，第10页第2段第3-4行记载了“图4表示聚焦误差信号作为扫描点15的轴向位移z的函数。曲线35即为信息层3的所谓S曲线”。即，根据图4所示，S曲线实际上反映出聚焦误差系统的聚焦误差信号与Z之间函数关系的曲线，其中，Z值为光束的扫描点与信息层之间轴向距离。因此，本领域技术人员可以根据说明书的上述记载，确定权利要求1中的技术术语“聚焦伺服系统的S曲线”的具体含义，权利要求1中的记载与说明书中的记载实质上一致的，因此权利要求1能够得到说明书的支持。同理，从属权利要求2-9也可以由本领域技术人员根据说明书的记载确定“聚焦伺服系统的S曲线”的具体含义，权利要求2-9也能够得到说明书的支持。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（2）请求人认为：权利要求1限定了“隔离层的厚度至少是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍”，根据说明书第10页倒数第3行到倒数第1行的记载：“S曲线的距离最好至少是曲线峰峰间距Sp的4倍以上以避免失调和非对称。相应地信息层的最小距离是4nSp”。根据说明书第11页最后一段的记载“图4中的虚线表示小的检测系统16对S曲线的影响。每个S曲线的总长度被降低到小于Sp长度的两倍，从而也降低S曲线39对S曲线35的串音。这时信息层的最小间距可以降为1.5nSp”。可见，权利要求1中限定的隔离层的厚度的下限是有前提条件的，即，聚焦伺服系统要使用小的检测系统，如说明书第11页第9-11行的记载：“对辐射敏感的表面的尺寸做得比普通装置的小。对辐射敏感的表面的最大尺寸最好小于当辐射光束被光学聚焦在信息层上时在其表面上产生的光点的直径的3倍”。也就是说，说明书的实施例中只公开了对于小的检测系统的情况下隔离层的厚度的下限是隔离层折射率与聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距的乘积的1.5倍，而对于普通的检测系统或者大的检测系统是不适用的。因此权利要求1概括了较大的保护范围，得不到说明书的支持。权利要求2-7是权利要求1的从属权利要求，类似地，权利要求2-7也得不到说明书的支持。
对此，合议组认为：本专利说明书记载了一个信息存储系统，它可以扫描多层记录载体，通过一个辐射光束能以独立于其他信息的方式对各个信息层进行扫描，从而减小串音影响。而其中聚焦伺服系统使用的检测系统是用于测量聚焦误差信号的，本专利说明书第6页第2-3行记载了“对辐射敏感的表面应有一个确定的最小尺寸以使它能产生一个令人满意的聚焦误差信号”，这表明采用较小尺寸的目的是产生令人满意的聚焦误差信号；另外，本专利说明书第6页第6-9行记载了“通过在辐射光束中放入一个光圈，限制射到该对辐射敏感的表面的辐射的范围，也可以在满足上述尺寸要求的同时使用具有较大的对辐射敏感的表面的检测系统”，这表明也可以采用较大的敏感辐射表面。因此，本领域技术人员可以根据说明书的上述记载得出或概括得出权利要求1-7请求保护的技术方案，权利要求1-7能够得到说明书的支持。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（3）请求人认为：权利要求8限定了“聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层折射率的1.5倍”，根据说明书第10页倒数第3行到倒数第1行的记载：“S曲线的距离最好至少是曲线峰峰间距Sp的4倍以上以避免失调和非对称。相应地信息层的最小距离是4nSp”。根据说明书第11页最后一段的记载“图4中的虚线表示小的检测系统16对S曲线的影响。每个S曲线的总长度被降低到小于Sp长度的两倍，从而也降低S曲线39对S曲线35的串音。这时信息层的最小间距可以降为1.5nSp”。可见，权利要求1中限定的隔离层的厚度的下限是有前提条件的，即，聚焦伺服系统要使用小的检测系统，如说明书第11页第9-11行的记载：“对辐射敏感的表面的尺寸做得比普通装置的小。对辐射敏感的表面的最大尺寸最好小于当辐射光束被光学聚焦在信息层上时在其表面上产生的光点的直径的3倍”。也就是说，说明书的实施例中只公开了对于小的检测系统的情况下聚焦伺服系统的S曲线的峰峰间距小于或等于每个隔离层的厚度除以该隔离层折射率的1.5倍，而对于普通的检测系统或者大的检测系统是不适用的。因此权利要求8概括了较大的保护范围，得不到说明书的支持。权利要求9是权利要求8的从属权利要求，类似地，权利要求9也得不到说明书的支持。
对此，合议组认为：本专利说明书记载了一个信息存储系统，它可以扫描多层记录载体，通过一个辐射光束能以独立于其他信息的方式对各个信息层进行扫描，从而减小串音影响。而其中聚焦伺服系统使用的检测系统是用于测量聚焦误差信号的，本专利说明书第6页第2-3行记载了“对辐射敏感的表面应有一个确定的最小尺寸以使它能产生一个令人满意的聚焦误差信号”，这表明采用较小尺寸的目的是产生令人满意的聚焦误差信号；另外，本专利说明书第6页第6-9行记载了“通过在辐射光束中放入一个光圈，限制射到该对辐射敏感的表面的辐射的范围，也可以在满足上述尺寸要求的同时使用具有较大的对辐射敏感的表面的检测系统”，这表明也可以采用较大的敏感辐射表面。因此，本领域技术人员可以根据说明书的上述记载，得出权利要求8请求保护的技术方案，同理，从属权利要求9的技术方案也可以由本领域技术人员根据说明书的记载得出，权利要求8-9能够得到说明书的支持。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（4）请求人认为：权利要求19的技术特征“该记录载体从入口面到该信息层堆栈一半高度的厚度和折射率基本上等于该透明材料的厚度和折射率”在说明书中没有记载，未以说明书为依据。权利要求20-25是权利要求19的从属权利要求。权利要求20-25都未对以说明书为依据对上述技术特征进行进一步限定，因此，权利要求20-25也未以说明书为依据。
对此，合议组认为：本专利说明书第14页第16行-第15页第7行记载了光学记录载体的具体结构，尤其在说明书第14页第18-19行记载了“对于该主光束在关于由一个具有标称厚度的衬底和由堆栈2的厚度的一半因此的球面象差方面进行校正”，此外，说明书第3页第17行-第4页第9行记载了有关球面象差补偿的内容，尤其在说明书第3页第24-25行记载了“通过下述这种方式来补偿辐射光束，即，使扫描点在堆栈约一半高度处基本上没有球面象差”。出于减小球面象差的目的，本领域技术人员可以从说明书的上述记载中，得到从入口面到堆栈一半高度部分是一个整体，相当于透明材料，两者的折射率和厚度基本相等，这样可以使球面象差减少到最小。因此，本领域技术人员可以根据说明书的上述记载概括得出权利要求19请求保护的技术方案，其能够得到说明书的支持；同样的，从属权利要求20-25也得到说明书的支持。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
（5）请求人认为：权利要求14对聚焦装置进行了功能性限定“该聚焦装置在辐射光束中引入一个与堆栈相关的球面象差以使此象差能补偿当辐射光束在经过该记录介质被聚焦在信息层堆栈的一半高度处时产生的球面象差”，但是说明书中只公开了一种与光学记录载体具有如下关系的聚焦装置以实现该功能：堆栈的厚度小于一个值2d，，其中n是隔离层的折射率，λ是辐射光束的真空波长，NA是聚焦设备的数值孔径，r是最大可容许的由球面象差引起的Strehl强度的降低。本领域的技术人员无法想到其他的聚焦装置也可以实现上述功能，因此权利要求14概括了较宽的保护范围，未以说明书为依据。
对此，合议组认为：本专利说明书第3页第17-26行中记载了聚焦装置，其可以进行球面象差补偿，权利要求14请求保护的是一种扫描装置，其中的聚焦装置可以进行球面象差补偿，本领域技术人员还能想到其他聚焦装置也能实现权利要求14所述的功能，因为在本领域中，不论堆栈2d的厚度是多少，聚焦装置都应该能够补偿一半高度处产生的球面象差；此外，权利要求14中聚焦装置的技术特征与光学记录载体的堆栈厚度之间不具有限定的关系。因此，本领域技术人员可以根据说明书的上述记载概括得出权利要求14请求保护的技术方案，其能够得到说明书的支持。对于请求人的上述主张合议组不予支持。
鉴于合议组已经得出权利要求4、5、15、20不符合专利法实施细则第20条第1款规定的结论，对于请求人提出的涉及这四个权利要求的其它无效理由不再予以评述。
三、决定
宣告95190979.7号发明专利权的权利要求4、5、15、20无效，在权利要求1-3、6-14、16-19、21-25的基础上继续维持该专利有效。
当事人对本决定不服的，可以根据专利法第46条第2款的规定，自收到本决定之日起三个月内向北京市第一中级人民法院起诉。根据该款的规定，一方当事人起诉后，另一方当事人作为第三人参加诉讼。
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